1 、与通用目标检测的区别

深度学习从低层到高层不断去提炼高层语义信息,层数的增大细节的信息丢失得越多,对于缺陷检测细节是很重要的东西
相较与整张图片瑕疵区域的占比一般非常小,Faster R-CNN等检测模型对小物体检测不够好
瑕疵图片占整体图片比数据量较少

公开数据集与项目

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主要采用三阶段方式:

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第一阶段:定位主要结构件位置,采用SSD作为检测网络。 第二阶段:对第一阶段检测出的各个结构图像中的紧固件做检测,也是采用Object Detection方式。 第三阶段:在第二阶段的基础上,对检测图像进行crop,将其送到分类网络进行分类,看是否缺少紧固件。

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分割网络定位像素级别的缺陷位置,然后通过分类网络对缺陷进行识别。

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分割网络主要完成缺陷的分割,而判别网络在此基础上对缺陷作进一步分类。

https://github.com/Wslsdx/Deep-Learning-Approach-for-Surface-Defect-Detection

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设计项目案例演示地址: https://space.bilibili.com/364224477


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